Инспекционные микроскопы

Серия МХ51

Компактные инспекционные микроскопы для исследования и проверки электронных компонент. Возможна интеграция с новой оптикой и устройствами для загрузки плат и компонент.

Данная серия оптимизирована для исследования электронных компонентов, включая магнитные головки и полупроводники, и обеспечивает чистое, высококонтрастное изображение исследуемых компонентов

Подробнее (Pdf. рус)
(29 мая 2009, 1 mb)

MX61 / MX61L

Прямой инспекционный микроскоп.

Учитывая большой опыт в данной области промышленности и материаловедении, Olympus предлагает многие решения, позволяющие инспектировать электронные компоненты легче, быстрее и более эффективно.

MX61/MX61L — полупроводниковый инспекционный микроскоп, был специально разработан для исследования подложек и плат. Данный микроскоп позволяет оператору работать в удобной позиции, тем самым увеличивая комфортное время для инспекции. Максимальны продуктивность и интеграция с инструментами в рабочей области.

Подробнее ( .pdf )
(29 мая 2009, 2 mb)

MX80

Выполнен по новым стандартам MX80 обеспечивает автоматическую работу и прекрасный обзор.

Отвечает требованиям, предъявляемым к следующим поколениям микроскопов.

Сочетание высочайшего качества, возможности полнейшей автоматизации, наряду обновленной системой автофокусировки позволяет данному типу приборов работать в различных направлениях инспекционной микроскопии.

Позволяет устанавливать суперширокопольную оптику и тубусы для увеличения поля зрения.