Инвертированные микроскопы
На главную / Микроскопы / Инвертированные микроскопы

GX-41

Компактный инвертированный микроскоп GX-41 обладает всеми функциями, необходимыми для металлографии.

  • В GX-41 исключена необходимость сложных настроек – просто включите питание и можете изучать образцы в светлом поле и простом поляризованном свете. Оптика, разработанная Olympus, гарантирует контрастное и резкое изображение образца.
  • Компактная и легкая конструкция микроскопа имеет удобную рукоятку для его переноски. Это позволяет оператору изучать образцы «на месте», или проверять качество подготавливаемых образцов, расположив микроскоп рядом с шлифовально-полировальным станком.

Общий диапазон увеличений от 50 до 1000 крат.

Подробнее (Pdf. рус)
(29 мая 2009, 246 kb)

GX-51

Инвертированный металлургический системный микроскоп GX51 позволяет проводить исследования в режимах светлого поля, темного поля, ДИК Номарского и простом поляризованном свете.

  • Переключение между светлым/темным полем производится путем переключения удобно расположенного рычага.
  • При проведении ДИК Номарского – просто вставьте ДИК слайдер в отведенный для него слот.
  • Так как микроскоп GX51 разработан для рутинных исследований, дизайн микроскопа полностью отвечает требованиям максимального удобства для оператора.


Общий диапазон увеличений от 12,5 до 1500 крат.

Подробнее (Pdf. рус)
(29 мая 2009, 248 kb)

GX-71

Первоклассный инвертированный системный микроскоп GX71– идеал для всех методов наблюдения: от светлого поля до флюоресценции.

  • Просто, изменяя позицию GX71 турели светоделителя, можно быстро и просто чередоваться между различными методами наблюдения включая светлое поле, темное поле, ДИК Номарского, простым поляризованным светом и флюоресценцией.
  • Универсальные объективы Olympus соответствуют этим требованиям. GX71 использует суперширокопольные окуляры высшего качества (F.N.26.5) спроектированные для работы как с очками, так и без очков.
  • На микроскопы серии GX71 установлен промежуточный блок изменения увеличения в масштабе 1x-1,25х-1,6х-2x, который кроме визуального наблюдения изменяет масштаб изображения на всех портах, позволяя ясно детализировать критический образец и облегчить кадрирование.


Общий диапазон увеличений от 12,5 до 2500 крат.

Подробнее (Pdf. рус)
(29 мая 2009, 320 kb)